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ULSI硅衬底的化学机械抛光技术

Chemomechanical polishing technique of silicon substrate in ULSI

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【作者】 狄卫国刘玉岭司田华

【Author】 DI Wei-guo1, LIU Yu-ling1, SI Tian-hua2(1.Hebei University of Technology, Tianjin 300130,China;2.Luoyang Single Crystal Silicon Factory,Luoyang 471009,China)

【机构】 河北工业大学洛阳单晶硅厂 天津300130天津300130河南洛阳471009

【摘要】 介绍了特大规模集成电路(ULSI)硅衬底的化学机械抛光工艺。对抛光机理、影响抛光速率和抛光质量的因素、抛光液中的成份特别是精抛液中的有机碱和活性剂的选择作了讨论分析,另外对抛光中出现的一些问题及解决方法进行了分析研究。

【Abstract】 Chemomechanical polishing(CMP)technology of silicon substrate inULSI is introduced in this paper. The mechanism of silicon polishing, some factors thatinfluence polishing rate and quality, choice of components in the slurry, specially organicalkali and surfactant in final polishing slurry are discussed. Besides some problems existedin polishing and the ways to solve the problems are analyzed.

【关键词】 化学机械抛光抛光液ULSI硅片
【Key words】 CMPULSISlurrySilicon wafer
  • 【文献出处】 半导体技术 ,Semiconductor Technology , 编辑部邮箱 ,2002年07期
  • 【分类号】TN305.2
  • 【被引频次】32
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