节点文献

高压LDMOS导通电阻的高温特性

Temperature Dependence of On-state Resistance of A High Voltage LDMOS at Very High Temperatures

  • 推荐 CAJ下载
  • PDF下载
  • 不支持迅雷等下载工具,请取消加速工具后下载。

【作者】 朱德智柯导明陈军宁

【Author】 Electronice Engineering Department Anhiu University,Hefei

【机构】 安徽大学电子工程学院安徽大学电子工程学院 安徽合肥230026安徽合肥230026安徽合肥230026

【摘要】 这篇文章提出了高压LDMOS的高温等效电路,并在此基础上讨论了LDMOS泄漏电流及其本征参数在25℃-300℃范围内随温度变化规律。根据本文分析,漏pn结的反向泄漏电流决定了LD-MOS的高温及限温度,导通电阻与温度的关系是(T)Z(Z=1.5~2.5)。

【Abstract】 The paper gives the equivalent circuit of a high voltage LDMOS at very high temperatures,and analyzes performance of leakage current and intrinsic parameters for LDMOS from 25℃to 300℃. It may be concluded that the maxicmal applied temperature of a drain and the erlationship between on-resistance and temperature is<IMG SRC="IMAGE/06120048.JPG" HEIGHT=24 WIDTH=113>.

  • 【文献出处】 安徽电子信息职业技术学院学报 ,Journal of Anhui Vocational College of Electrontcs & Information Technology , 编辑部邮箱 ,2002年02期
  • 【分类号】TN722
  • 【下载频次】101
节点文献中: 

本文链接的文献网络图示:

本文的引文网络