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单片机控制的频率特性测试仪

The Frequency Characteristic Testing Meter Based on Single Chip Microcomputer

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【作者】 徐仁贵管运生王普

【Author】 Xu Rengui\ Guan Yunsheng\ Wang Pu Shandong Architecture & Engineering Institute,Jinan 250013

【机构】 山东建筑工程学院!济南市250013

【摘要】 文中介绍了一种由单片机控制的频率特性测试仪 ,能方便地测试一个系统的幅频特性和相频特性。文中说明了该仪器的结构、工作原理和性能特点。

【Abstract】 This paper presents a type of frequency characteristic testing meter which is based on single chip microcomputer.It can measure the magnitude characteristic and phase charactertic of a system,especially be suited for experiment teaching.In this paper,its structure,operation principle and performance have been illustrated.

  • 【文献出处】 仪表技术与传感器 ,Instrument Technique and Sensor , 编辑部邮箱 ,2001年03期
  • 【分类号】TM935
  • 【被引频次】7
  • 【下载频次】435
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