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微波等离子体化学气相沉积法制备C_3N_4薄膜的结构研究  
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【英文篇名】 STRUCTURAL CHARACTERIZATION OF C_3N_4 THIN FILMS SYNTHESIZED BY MICROWAVE PLASMA CHEMICAL VAPOR DEPOSITION
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【作者】 张永平; 顾有松; 高鸿钧; 张秀芳;
【英文作者】 ZHANG YONG-PING 1) GU YOU-SONG 2) GAO HONG-JUN 1) ZHANG XIU-FANG 1) 1)(Beijing Laboratory of Vacuum Physics; Center for Condensed Matter Physics; Institute of Physics; Chinese Academy of Sciences; Beijing\ 100080; China) 2)(Department of Ma;
【作者单位】 中国科学院物理研究所; 北京科技大学材料物理系;
【文献出处】 物理学报 , Acta Physica Sinica, 编辑部邮箱 2001年 07期  
期刊荣誉:中文核心期刊要目总览  ASPT来源刊  中国期刊方阵  CJFD收录刊
【中文关键词】 C3N4; 微波等离子体化学气相沉积法; 薄膜沉积;
【英文关键词】 C 3N 4; microwave plasma chemical vapor deposition; thin film deposition;
【摘要】 采用微波等离子体化学气相沉积法 ,用高纯氮气 (99.999% )和甲烷 (99.9% )作反应气体 ,在单晶Si(10 0 )基片上沉积C3N4薄膜 .利用扫描电子显微镜观察薄膜形貌 ,表明薄膜由密排的六棱晶棒组成 .X射线衍射和透射电子显微镜结构分析说明该薄膜主要由β C3N4和α C3N4组成 ,并且这些结果与α C3N4相符合较好 .由虎克定律近似关系式计算了α 和β C3N4的傅里叶变换红外光谱和Raman光谱 ,实验结果支持C—N共价键的存在 .
【英文摘要】 Crystalline carbon nitride films have been synthesized on Si substrates by microwave plasma chemical vapor deposition technique, using a gas mixture of nitrogen and methane. Scanning electron microscopy shows that the film consisted of hexagonal crystalline rods. X-ray diffraction and transmission electron microscopy indicate the films are mainly composed of α-and β-C 3N 4, and these results match more closely with α-C 3N 4 than with β-C 3N 4 phase. Fourier transform infrared (FTIR) and Raman spectra ...
【基金】 国家自然科学基金! (批准号 :196740 0 9)&&
【分类号】 O613
【正文快照】 1 引言作为材料的重要性质之一 ,硬度一直受到人们广泛的重视和研究 .从普通的常识来讲 ,自然界中存在的材料中金刚石的硬度最高 ,所以往往以金刚石设定硬度标准的上限 ,来衡量其他物质的强度 .然而 ,这个标准从理论上受到了严重的挑战 .Cohen和Liu[1,2 ] 利用半经验?

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