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测试向量最大压缩技术

Method of Maximal Compaction Test Pattern

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【Author】 ZENG Cheng bi 1,DUAN Shu jiang 1,CHEN Guang ju 2 (1.College of Electrical Info.,Sichuan Univ.,Chengdu 610065,China;2.Dept. of CAT,Univ. of Electronic Sci. and Tech. of China,Chengdu 610054,China)

【机构】四川大学电气信息学院；电子科技大学CAT室四川成都610065；四川成都610065；四川成都610054；

【摘要】描述了基于可满足性的测试向量压缩的整数线性规划 (ILP)模型 ,求解整数线性规划采用 0 - 1加法算法。由ISCAS85标准电路实验结果的比较说明 ,这种压缩测试向量的方法非常有效。更多还原

【Abstract】 In the paper,integer linear programming(ILP) formulation which builds on an existing propositional satisflability(SAT) model for test pattern generation is described,under the additional constraint that the number of specified primary input assignments is minimized.The proposed solution is based on 0-1 algorithm.The results on benchmark circuits show the practical applicability of the test pattern minimization model.更多还原

【关键词】组合电路；线性规划； 0-1算法；
【Key words】 combinizational circuits； linear programming； 0-1 algorithm；

【文献出处】四川大学学报(工程科学版) ,Journal of Sichuan University (Engineering Science Edition) , 编辑部邮箱 ,2001年06期

【分类号】TN406
【被引频次】1
【下载频次】71

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