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单片MCU内部的电磁兼容性设计研究

A Study on the Design for Electromagnetic Compatibility of a Monolithic MCU

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【作者】 陈华; 姚美伦; 李毓麟;

【Author】 CHEN Hua,YAO Mei lun,LI Yu ling [WT6BX](School of Information & Electronics, Shanghai Jiaotong University, Shanghai 200030,P.R.China) [WT5HZ]

【机构】 上海交通大学信息与电子学院!上海200030;

【摘要】 电磁兼容性 (EMC)是衡量 MCU可靠性的关键指标 ,EMC已经成为 MCU设计中必须考虑的问题。文章介绍了 EMC的有关概念 ,以及在设计 MCU时为提高 EMC性能所采用的一些原则和实现技术 ,提出了 EMC的实验室测试方法

【Abstract】 WT5”BZ]Electromagnetic compatibility (EMC) is one of the important reliability specifications of MCU’s, which should be taken into consideration in the design of MCU’s The concept of EMC is introduced And key EMC designing techniques for MCU’s used by the author are described The EMC testing in the lab environment is also presented in the paper [WT5HZ]

  • 【分类号】TN03
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