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用X射线线形精炼法分析纳米晶体的微观结构

The Microstructure of Nanocrystal by X ray Diffraction Line Profile Refine Analysis

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【Author】 GAO Zhong min, WANG Wen yu , XU Yao, LI Xiang shan  (Analysis and Test, Jilin University, Changchun, 130023, P.R.China; Department of Materials Science, Jilin University, Changchun, 130023, P.R.China)

【机构】吉林大学分析测试中心!长春130023；吉林大学材料科学系!长春130023；

【摘要】利用广角 X射线衍射仪 ,采用单线傅氏线形精炼分析法 ,研究不同制备方法及不同处理条件的纳米晶体的晶粒大小和微观畸变更多还原

【Abstract】 The grain size and microdistortion of some nanomaterials synthesized by different methods, from different materials and treated under different disposal conditions were studied by means of wide angel X ray diffraction (WAXD) and single line fourier line shape refine analysis.更多还原

【关键词】纳米晶； X射线线形精炼法；晶粒大小；微观畸变；
【Key words】 nanocrystal； X ray line profile refine method； grain size； distortion.；

【文献出处】吉林大学自然科学学报 ,Acta Scientiarium Naturalium Universitatis Jilinensis , 编辑部邮箱 ,2001年01期

【分类号】O76
【被引频次】10
【下载频次】170

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