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滤光片及X射线二极管响应面均匀性研究

The study for surface uniformity of the response of the filter and X-ray diode

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【作者】 崔延莉孙可煦易荣清黄天暄杨家敏丁永坤丁耀南曹磊峰杨国洪温天舒王耀梅崔明启朱佩平赵屹东黎刚

【Author】 CUI Yan li 1,SUN Ke xu 1,YI Rong qing 1,HUANG Tian xuan 1,YANG Jia min 1, DING Yong kun 1,DING Yao nan,CAO Lei feng 1,YANG Guo hong,WEN Tian shu 1, WANG Yao mei 1,CUI Ming qi 2,ZHU Pei ping 2,ZHAO Yi dong 2,LI Gang 2( 1

【机构】 中国工程物理研究院核物理与化学研究所高温、高密度等离子体物理重点实验室!四川绵阳919信箱986分箱621900中国工程物理研究院核物理与化学研究所高温、高密度等离子?

【摘要】 介绍了用于软 X光能谱测量的滤光片及 X射线二极管能量响应均匀性研究。实验利用北京同步辐射装置 3W1B束线 ,流强 4 0~ 80 m A的运行条件 ,在 10 0~ 160 0 e V能区对滤光片及 X射线二极管 ( XRD)作能响曲线标定。重点对 C滤片及 Al阴极 XRD的灵敏面作能响面均匀性研究 ,最后给出响应面均匀性测量结果及计算分析。

【Abstract】 The study of surface uniformity of the response of the filter and X ray diode to measure soft X ray spectrum is reported. The Beijing synchrotron radiation facility 3W1B with beam current 40~80mA, and photon energy 100~1600eV is used. The energy response for the filter and X ray diode has been calibrated. Primarily, the surface uniformity of response for carbon filter and X ray diode with aluminum cathode have been studied. Finally, the experimental curve of the surface uniformity for the C filter and XRD(Al) are given and analyzed.

【基金】 高技术 863-416-3-4.6资助项目
  • 【文献出处】 核电子学与探测技术 ,Nuclear Electronics & Detection Technology , 编辑部邮箱 ,2001年02期
  • 【分类号】O434.14
  • 【被引频次】2
  • 【下载频次】56
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