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磁强计的计算机接口电路故障分析

FAULT ANALYSIS OF MAGNETOMETER INTERFACE

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【作者】 贾肖婵； 乔一枝；

【Author】 Jia Xiaochan (Hebei Industry University ,Tianjin,300130) Qiao yizhi (Hebei Normal University,Shi Jiazhuang,050016)

【机构】 河北工业大学； 河北师范大学 天津； 3001300； 石家庄； 050016；

【摘要】 本文介绍了震动样品磁强计 (VSM)计算机接口电路的故障分析及故障排除

【Abstract】 In this paper,electric circuit fault of M155 VSM interface has been analysed and removed.

【关键词】 震动样品磁强计； 接口电路； 故障；
【Key words】 Vibrating Sample Magnetometer； Electric circuit； Fault；
  • 【文献出处】 大学物理实验 ,College Physical Experiment , 编辑部邮箱 ,2001年04期
  • 【分类号】TP334.7
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