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基于比值采样原理实现半导体温度电阻的测量

Measurement of semiconductor resistor based on ratio sampling system

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【作者】 江修经亚枝张焕春

【Author】 Jiang Xiu, Jing Yazhi, Zhang Huanchun (Nanjing University of Aeronautics & Astronautics, Nanjing 2l0016, China)

【机构】 南京航空航天大学自动化学院测试工程系南京航空航天大学自动化学院测试工程系 南京 210016南京 210016南京 210016

【摘要】 介绍一种采用比值采样测量半导体温度电阻的测量方法。由于采用比值采样技术,在不提高元件性能的前提下,大大提高了测量温度的准确度。

【Abstract】 A method is presented for measuring semiconductor resistor using ratio sampling tech- niques. By using technology of ratio sampling system, with out improving components capabilities, the measuremen tprecision can be improved.

  • 【文献出处】 电测与仪表 ,Electrical Measurement & Instrumentation , 编辑部邮箱 ,2001年05期
  • 【分类号】TP212
  • 【被引频次】2
  • 【下载频次】64
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