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SrBi2Ta2O9薄膜的制备和铁电性能研究

Study on the Preparation and Ferroelectric Properties of SrBi2Ta2O9 Thin Films

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【作者】 周志刚朱丽丽郭冬云王耘波徐静平

【Author】 Zhou Zhigang,Zhu Lili,Guo Dongyun,Wang Yunbo,Xu Jingping (Department of Ele.Sci & Tech., Huazhong University of Sci. & Tech., Wuhan 430074)

【机构】 华中科技大学电子科学与技术系华中科技大学电子科学与技术系 武汉430074武汉430074武汉430074

【摘要】 用一种新的低温过程制备了SrBi2Ta2O9铁电薄膜。在Sol-Gel方法中用Pt/Ti/SiO2/Si作衬底,研究了薄膜的结构和电特性。SrBi2Ta2O9薄膜在淀积Pt上电极之前和之后都要退火,第一次退火在760乇氧压下600℃时退火30分钟,在第二次退火后薄膜结晶良好。

【Abstract】 A new low temperature processing method for preparation of SrBi2Ta2O9 thin films is proposed. These thin films were prepared on Pt/Ti/SiO2/Si substrates by a sol-gel method,their structural and electrical properties are investigated.Films are annealed before and after the top Pt electrode deposition.The lst annealing is performed in a 760 Torr oxygen atmosphere at 600℃ for 30 min, and the films are well crystallized and find grained after the 2nd annealing.

【关键词】 铁电薄膜SBTSol-Gel法
【Key words】 Ferroelectric thin films SBT Sol-gel method
  • 【文献出处】 信息记录材料 ,Magnetic Recording Materiais , 编辑部邮箱 ,2001年04期
  • 【分类号】O614
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