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Ti/Al/Ti/Au与AlGaN欧姆接触特性

Ohmic Contact Performance Between Ti/Al/Ti/Au and AlGaN

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【作者】 张锦文张太平王玮宁宝俊武国英

【Author】 ZHANG Jin-wen,ZHANG Tai-ping,WANG Wei,NING Bao-jun and WU Guo-ying[KH2D][WT6BX](Institute of Microelectronics,Peking University,Beijing 100871,China)

【机构】 北京大学微电子研究所!北京100871

【摘要】 研究了溅射 Ti/ Al/ Ti/ Au四层复合金属与 Al Ga N / Ga N的欧姆接触特性 ,并就环境温度对欧姆接触特性的影响进行了分析研究 .试验证实 :溅射的 Ti/ Al/ Ti/ Au与载流子浓度为 2 .2 4× 10 1 8cm- 3的 Al Ga N之间在室温下无需退火即可形成欧姆接触 .随快速退火温度的升高接触电阻降低 .快速退火时间 30 s已可实现该温度下最佳欧姆接触 .当工作温度不高于 30 0℃时接触电阻几乎不受温度的影响

【Abstract】 The performance of Ohmic contact between Ti/Al/Ti/Au deposited by sputtering and n-AlGaN with carrier density of 2 24×10 18 cm -3 has been studied.It is found that Ohmic contact can be formed between them without any annealing.As the RTA temperature is increasing,the contact resistivity would decrease.30 second is the optimum RTA time.The work temperature has hardly any influence on the contact resistivity when it is not higher than 300℃

【关键词】 AlGaNTi/Al/Ti/Au欧姆接触
【Key words】 AlGaNTi/Al/Ti/AuOhmic contact
  • 【文献出处】 半导体学报 ,Chinese Journal of Semiconductors , 编辑部邮箱 ,2001年06期
  • 【分类号】TN304.26
  • 【被引频次】16
  • 【下载频次】342
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