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两种Cp的诊断理论
【摘要】 <正> 我们知道现有的质量概念包含如图1所示内容: 正是由于其中上道工序对下道工序的影响(简称上影)这一部分使得上下道工序分不清质量责任。为此提出两种质量的新概念,即 1.分质量:是指该道工序固有的加工质量,这是个新概念,但却是客观存在的。显然,分质量与上影无关。 2.总质量:即现有的质量,它不是新概念,这里加个总字,不过是强调它包括分质量与上影两部分,从而与所有上道工序都有关。
- 【文献出处】 中国质量 ,China Quality , 编辑部邮箱 ,2000年04期
- 【分类号】F273.2
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