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一种基于断层测量的反求工程

A Reverse Engineering System Based on Slicing Measurement

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【作者】 刘振凯陈剑虹乔志林丁玉成卢秉恒

【Author】 LIU Zhenkai(Xi′an Jiaotong University,Xi′an,China)CHEN Jianhong QIAO Zhilin DING Yucheng LU Bingheng p 393 397

【机构】 西安交通大学西安金叶西工大软件有限公司

【摘要】 断层测量技术能同时测量物体的表面和内腔尺寸 ,在反求工程中具有较好的应用前景。现有方法如 CT和 MRI的测量精度较低 ,且成本很高。针对上述问题 ,研究了一种基于层去图像法的断层测量系统 ,并给出了它在反求工程中的应用

【Abstract】 Slicing measurement methods can acquire the shape data of both exterior and interior surfaces and regions of an object, which have great practical value for reverse engineering. Although computer tomography(CT) and magnetic resonance imaging(MRI) can nondestructively extract part contours, their measuring accuracy is low and the cost is very high. This paper presents the cross-sectional imaging measurement system, and describes its applications in reverse engineering.

【基金】 国家“九五”科技攻关资助项目! ( 96-A 2 2 -0 2 -0 1)
  • 【文献出处】 中国机械工程 ,China Mechanical Engineering(中国机械工程) , 编辑部邮箱 ,2000年04期
  • 【分类号】TH74
  • 【被引频次】35
  • 【下载频次】143
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