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33例高热惊厥患儿脑电图观察(附66例患儿家属脑电图分析)
【摘要】 目的：探讨高热惊厥患儿的脑电图特点及其规律性变化。方法：反复检查患儿发热期与恢复期脑电图及其双亲脑电图。结果：患儿高热惊厥脑电图异常率以初次发作者低，反复发作者高。结论：高惊厥有一定遗传倾向。
- 【文献出处】 河北职工医学院学报 ,Journal of Hebei Medical College for Continuing Education , 编辑部邮箱 ,2000年02期
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