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激光等密度等倾干涉条纹法测定透明介质的厚度和折射率
【摘要】 提出用迈克尔孙干涉仪等密度等倾干涉条纹法测定透明介质(玻璃、薄膜等)的厚度和折射率的方法.实验证明,这种方法是正确、有效和简便的.
- 【文献出处】 物理实验 ,PHYSICS EXPERIMENTATION , 编辑部邮箱 ,2000年03期
- 【分类号】O436-4
- 【被引频次】11
- 【下载频次】508
【摘要】 提出用迈克尔孙干涉仪等密度等倾干涉条纹法测定透明介质(玻璃、薄膜等)的厚度和折射率的方法.实验证明,这种方法是正确、有效和简便的.