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0.9μmASIC正向设计中DDB的产生及验证

Design Data Base Generation and Verification in 0.9μm ASIC Top-Down Design

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【作者】 居水荣； 袁敏民；

【Author】 Ju Shuirong,Yuan Minming (MOS IC Design Institute of China Huajing Electronics Corporation,Wuxi,214061)

【机构】 中国华晶电子集团公司MOS总厂设计所!无锡； 214061；

【摘要】 讨论了 0 9μm标准单元正向设计流程中 ,后道工具所需的中间数据格式—DDB的产生方法及步骤 ,同时给出了DDB的验证方法。

【Abstract】 The generating methods and steps of DDB for the backend tools in the 0.9μm standardcell top-down design flow are discussed,and the verification methods for DDB are also given.

【关键词】 DDB产生； 验证； ASIC； 正向设计；
【Key words】 DDB generation； Verification； ASIC； Top-down design；
  • 【文献出处】 微电子技术 ,MICROELECTRONIC TECHNOLOGY , 编辑部邮箱 ,2000年02期
  • 【分类号】TN302
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