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荧光研究装置光测量系统的波长刻度

Wavelength Calibration for the Light Measuring System of a Fluorescence Instrument

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【作者】 郭建军； 杜泉； 刘备书；

【Author】 GUO Jian jun DU Quan LIU Bei shu (Dept of Electronic Information and Electrical Engineering of Sichuan University of Science and Technology,Chengdu 610039)

【机构】 四川工业学院电子信息与电气工程系!成都610039；

【摘要】 在 30 0nm～ 90 0nm范围内对荧光研究装置光测量系统进行波长刻度 ,并拟合出光波长刻度的外推公式。

【Abstract】 The wavelength calibration for the light measuring system of a fluorescence device within the range of 300 nm～900 nm is conducted and an extrapolation formula for the wavelength calibration is developed

【关键词】 光测量系统； 波长； 刻度；
【Key words】 light measuring system； wavelength； calibration；
  • 【文献出处】 四川工业学院学报 ,SICHUAN UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY , 编辑部邮箱 ,2000年03期
  • 【分类号】O562
  • 【被引频次】1
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