【摘要】 YCa4O(BO3 ) 3 (简称YCOB)晶体和GdCa4O(BO3 ) 3 (简称GdCOB)晶体是近年来发展起来的新型功能晶体。由于具有较大的非线性系数 ,良好的透光波段等优良性质而倍受人们关注。众所周知 ,晶体的完整性对晶体功能的实现有着重要影响。因此 ,开展功能晶体中缺陷的研究 ,了解其形成机制 ,对于生长高完整性功能晶体具有重要的意义。光学显微术是观测和研究晶体缺陷的最方便和应用最广泛的方法。其中化学腐蚀法可显示晶体中的缺陷如位错、层错、孪晶界、亚晶界、铁电或铁磁畴等。从而获得晶体中缺陷组态和晶体完整性的信息。腐蚀法几乎可以用于所有晶体的研究。我们采用Czochralski法生长了YCOB和GdCOB晶体 ,通过光学显微术对晶体的缺陷进行研究。经过机械切割、研磨与抛光 ,采用化学腐蚀法 ,将晶体放入不同浓度的酸、碱中 ,由反射显微镜直接观察晶面上的蚀坑形态、分布状况。晶面上的蚀坑是位错在该面上的露头点 ,其形态可以反映该晶面的对称性。我们对不同实验条件下腐蚀结果进行了对比 ,结果表明 ,YCOB与GdCOB晶体的 ( 0 1 0 )面和 ( 2 0 1 )面腐蚀坑均成偏三角形 ,显示了该晶面具有赝三次对称性。YCOB与GdCOB晶体相同方向晶面腐蚀速度不同 ,GdCOB晶体的腐蚀坑显露速度较快 ,且相同晶体不同方向晶面的腐蚀速度更多还原