【摘要】 钨酸铅晶体因具有高密度 ,低成本 ,快的衰减时间及耐辐射等特点 ,引起了国内外高能物理界和材料学者的广泛关注。目前 ,世界上许多国家正在大规模地开展研究 ,并在晶体的生长和性能等方面取得了显著的成效。由于大尺寸钨酸铅晶体在室温下的光产额较小 ,如何有效提高晶体的光产额指标成为研究的主要课题之一。我们经过研究和调试 ,自行组建了一套晶体闪烁性能测试系统 ,并对钨酸铅晶体进行了光产额性能的测试。实验中选择XP2 2 6 2B型光电倍增管 (PMT) ,其主要特点在于它不仅与PWO晶体的发射谱波长有良好的光谱响应 ,而且对单光电子谱具有良好的分辨本领 ;放大器与模数转换器均选用快电荷灵敏型。门发生器的门宽设为 1 0 0～ 1 0 0 0ns;并经由CAMAC控制器中读入计算机 ;数据处理使用PAW软件 ,将得到的谱图以高斯 +指数分布方式拟合。为减少光线在晶体与PMT光阴极接触界面的全反射 ,在晶体与PMT之间涂上硅油 ,并在PMT周围接入磁屏蔽以减少外界磁场的影响 ,将晶体与PMT密闭于一暗室中 ,采用60 Co作为γ放射源。为提高测试的精度 ,本文还就如何加强测试系统的稳定性进行了讨论。如良好的接地保护 ,高压信号的稳定性 ,测试系统温度的恒定 ,数据采集时间的长短等等因素 ,都会对测试结果的误差带来很大的影响。更多还原