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同步辐射X射线形貌术在晶体生长和缺陷研究中的应用

Application of Synchrotron Radiation X-ray Topography in the Research of Defects and Crystals Growth

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【作者】 蒋建华

【Author】 JIANG Jian hua (Institute of High Energy Physics,Chinese Academy of Sciences,Beijing 100039,China) (Received 25 January 2000,accepted 6 April 2000)

【机构】 中国科学院高能物理研究所!北京100039

【摘要】 本文介绍了同步辐射光源的特点 ,以及在应用于X射线形貌术时带来的各种好处。并通过介绍在北京同步辐射装置上所做的若干实验成果 ,扼要叙述了同步辐射X射线形貌术在晶体缺陷研究和晶体生长中的应用。

【Abstract】 The superior properties of the synchrotron radiation and the advantages of the synchrotron radiation X ray topography are introduced.The applications of the synchrotron radiation X ray topography on the studies of defects and growth of crystals are briefly presented by means of some experimental results carried out at Beijing Synchrotron Radiation Facility.

  • 【文献出处】 人工晶体学报 ,JOURNAL OF SYNTHETIC CRYSTALS , 编辑部邮箱 ,2000年02期
  • 【分类号】O774
  • 【被引频次】22
  • 【下载频次】473
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