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X光CCD响应特性

Study on Response of X-ray Charge Coupled Device to Soft-X-ray

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【作者】 杨家敏丁耀南曹磊峰丁永坤王耀梅张文海郑志坚崔明启朱佩平赵屹东黎刚

【Author】 YANG Jia-min-1, DING Yao-nan-1, CAO Lei-feng-1, DING Yong-kun-1, WANG Yao-mei-1, ZHANG Weng-hai-1, ZHENG Zhi-jian-1, CUI Ming-qi-2, ZHU Pei-ping-2, ZHAO Yi-dong-2, LI Gang-2 (1.Institute of Nuclear Physics and Chemistry,CAEP,P.O.Box 91 9-216,Mianyang,

【机构】 中国工程物理研究院核物理与化学研究所!四川省绵阳919-216信箱621900中国工程物理研究院核物理与化学研究所!四川省绵阳919-216信?

【摘要】 在北京同步辐射源上建立了 X光 CCD量子效率实验标定方法 ,获得了 1 50 e V~ 1 50 0 e V能区范围多个 X光能点的量子效率实验结果 ,发展了 X光 CCD量子效率简化计算模型 ,并对 X光 CCD表面油沾污对量子效率的影响进行了实验研究和修正

【Abstract】 Response of X-ray charge coupled device (CCD) to soft X rays were cali brated on Beijing Synchrotron Radiation Facility, and the experimental results h ave been obtained in photon energy range of 150eV to 1500eV. Then, a simple mode l was developed to simulate the calibrated results. The effect of CCD surface contamination on C CD response to X rays has also been investigated.

【关键词】 X光CCD量子效率实验标定
【Key words】 X-r ay CCDquantum efficiencyexperimental calibration
【基金】 国家863惯性约束聚变领域及高温高密度等离子体物理重点实验室资助课题!(99JS77.4.1zs770 2 )
  • 【文献出处】 强激光与粒子束 ,HIGH POWER LASER & PARTICLE BEAMS , 编辑部邮箱 ,2000年05期
  • 【分类号】TN24
  • 【被引频次】21
  • 【下载频次】120
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