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X射线法测量ICF靶丸参数中表面轮廓法的应用
X-RAY MEASUREMENT OF ICF TARGET USING SURFACE PROFILER SCANNING
【摘要】 在 ICF靶参数测量中 ,用接触 X射线显微辐射照相法记录微球 X射线图像 ,采用精密表面轮廓仪处理微球 X射线图像 ,直接测量了单层微球壁厚。与光干涉法比较 ,两种方法测量结果相差小于 0 .3 μm。
【Abstract】 The X ray radiography technique for measurement of ICF targets. Record film images of microspheres using contact microradiography. Analysis the X ray images using surface profiler, direct measuring the wall thickness of single wall microsphere. Comparsed this measurement with the optical interferometric measurement and found measurement differences <0.3μm.
【基金】 国家 8 63惯性约束聚变领域资助课题
- 【文献出处】 强激光与粒子束 ,HIGH POWER LASER & PARTICLE BEAMS , 编辑部邮箱 ,2000年01期
- 【分类号】TL619
- 【被引频次】22
- 【下载频次】113