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X射线法测量ICF靶丸参数中表面轮廓法的应用

X-RAY MEASUREMENT OF ICF TARGET USING SURFACE PROFILER SCANNING

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【作者】 刘元琼罗青王明达

【Author】 LIU Yuan qiong, LUO Qing, WANG Ming da Institute of Nuclear Physics and Chemistry, CAEP, P.O.Box 919 218,Mianyang, 621900[KH+3mmD]

【机构】 中国工程物理研究院核物理与化学研究所!绵阳市919-218信箱621900

【摘要】 在 ICF靶参数测量中 ,用接触 X射线显微辐射照相法记录微球 X射线图像 ,采用精密表面轮廓仪处理微球 X射线图像 ,直接测量了单层微球壁厚。与光干涉法比较 ,两种方法测量结果相差小于 0 .3 μm。

【Abstract】 The X ray radiography technique for measurement of ICF targets. Record film images of microspheres using contact microradiography. Analysis the X ray images using surface profiler, direct measuring the wall thickness of single wall microsphere. Comparsed this measurement with the optical interferometric measurement and found measurement differences <0.3μm.

【关键词】 X射线法ICF靶表面轮廓法
【Key words】 X ray radiography techniqueICF targetsurface profiler
【基金】 国家 8 63惯性约束聚变领域资助课题
  • 【文献出处】 强激光与粒子束 ,HIGH POWER LASER & PARTICLE BEAMS , 编辑部邮箱 ,2000年01期
  • 【分类号】TL619
  • 【被引频次】22
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