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纳米界面性能在电介质科学中的应用

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【作者】 何恩广； 刘庆峰； 尚文宇；

【机构】 西安交通大学!陕西西安710049；

【摘要】 本文介绍了纳米科学技术中纳米界面的研究及其与电介质性能的联系 ,综述了纳米界面为绝缘电介质等基本电介质领域研究提供的新思路。

【关键词】 纳米界面； 电介质；
  • 【分类号】TM21
  • 【被引频次】19
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