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用Coulomb爆炸实测~4HeD~+的键长

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【摘要】 用 1 46 8 0MeV4HeD+ 在超薄无衬碳膜中的Coulomb爆炸 ,获得4HeD+ 的键长实测值为 (0 0 97± 0 0 0 3)nm .讨论了4HeD+ 的形成机理 .介绍了 4HeD+ 原始束中D+ 3 污染的降低 ,及产物4He+ + 和D+ 高分辨能谱测量中的粒子鉴别方法等 .

【关键词】 ~4HeD~+微团簇键长核间距
【基金】 国家自然科学基金!(批准号 :19735 0 0 4;195 75 0 33);国家教育部重点科技项目基金!(批准号 :1997[12 9])资助项目
  • 【分类号】O571
  • 【被引频次】3
  • 【下载频次】22
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