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端粒、隐性嵌合体、杂合性丢失与多基因遗传病
【摘要】 端粒的长度和耗损速度是决定细胞复制潜力的两个重要因素 ,端粒的耗损不但引发细胞衰老、杂合性丢失 ,而且导致致病等位基因的表达。多基因遗传病的发病决定于多种致病基因的遗传率和端粒的耗损量、隐性嵌合体存在范围之间的相互作用
- 【文献出处】 国外医学.遗传学分册 , 编辑部邮箱 ,2000年01期
- 【分类号】R596
- 【被引频次】1
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【摘要】 端粒的长度和耗损速度是决定细胞复制潜力的两个重要因素 ,端粒的耗损不但引发细胞衰老、杂合性丢失 ,而且导致致病等位基因的表达。多基因遗传病的发病决定于多种致病基因的遗传率和端粒的耗损量、隐性嵌合体存在范围之间的相互作用