也谈影响H_xn型无机酸强度的因素

【摘要】 根据分子轨道理论，依据分子中电子的填充，得失，与运动特征，将孤立导体上 的静电分布规律类比地应用于无机氢酸及其失去质子后的所剩基因上，引入了分子和离子表面 上的电荷密度，并通过对影响电荷密度的因素的分析，讨论了分子与其失去质子后所剩基因的 电荷密度的变化规律与无机氨酸强度的变化规律的关系，得到了与实验得到的规律一致结论， 从而得出失去质子前后电荷密度变化是影响无机氢酸强度的决定因素。更多还原