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反应离子刻蚀工艺仿真模型的研究

Modeling and simulation of reactive ion etching technology

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【作者】 陆建祖魏红振李玉鉴张永刚林世鸣余金中刘忠立

【Author】 LU Jian zu,\ WEI Hong zhen,\ LI Yu jian, \ ZHAN Yong gang,\ LI Shi ming,\ YU Jin zhong,\ LIU Zhong li (National Integrated Optoelectronics Lab. Institute of Semiconductors,Chinese Academy of Sciences,Beijing 100083,China)

【机构】 集成光电子学国家实验室中国科学院半导体所!北京100083集成光电子学国家实验室中国科学院半导体所!北京10

【摘要】 以SF6 N2 混合气体对Si反应离子刻蚀工艺研究为例提出干法刻蚀计算机工艺模拟的方法 :在分段拟合优化工艺条件下采用人工神经网络方法建立干法刻蚀仿真模型 ,可以予测给定射频功率、总气流量下刻蚀速率和纵横比 ,并且以仿真实验数据训练模型学习 ,模型具有通用性 ,与设备无关。

【Abstract】 In this work, we report a simulation method of RIE technology based on RIE of silicon using SF 6 /N 2 mixture gases.Our approach consists of the following elements:(a) fitting and optimization in parts.(b)modeling by artificial neural network.The system of RIE simulation can be used to predict the etching rate and the aspect ratio.Also the modeling can be used for general purpose and is independent on etching equipment.

【基金】 “8 63”资助项目!30 7- 15- 3( 0 8)
  • 【文献出处】 功能材料与器件学报 ,Journal of Functional Materials and Devices , 编辑部邮箱 ,2000年04期
  • 【分类号】TN305
  • 【被引频次】19
  • 【下载频次】385
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