节点文献

用KrF准分子脉冲激光在低基板温度下制备AlN薄膜的研究

Study on Deposition of AlN Thin Films at Low Substrate Temperature with KrF Excimer Pulsed Laser

  • 推荐 CAJ下载
  • PDF下载
  • 不支持迅雷等下载工具,请取消加速工具后下载。

【作者】 赵强范正修WANGMingliKyung-KuYOONJae-GuKIMSeong-KukLEEKyung-HyunWHANG

【Author】 ZHAO Qiang 1,FAN Zhengxiu 1,WANG Mingli 2,Kyung-Ku YOON 2,Jae-Gu KIM 2, Seong-Kuk LEE 2,Kyung-Hyun WHANG 2 (1.Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics,Shanghai,201800,China; 2.Korea Institute of Machinery & Materials,Taejon,305-343,Korea)

【机构】 中国科学院上海光学精密机械研究所!上海201800KoreaInstituteofMachinery&Materials!Taejon305-343KoreaKo

【摘要】 用KrF准分子脉冲激光在 2 0 0℃的Si(111)基板上通过改变制备条件 ,采用沉积后直接保温处理的方式制备出了具有不同择优取向的AlN薄膜 ,并得出了较高的处理温度和过长的时间不利于AlN相的形成的结论。

【Abstract】 AlN thin films with dominant crystalline structure were prepared on Si(111) substrate at low temperature (200℃) with a KrF excimer pulsed laser by varying the deposition conditions.And the forming of AlN phases were precluded by the long time and high temperature in heat treatment after the deposition.

  • 【文献出处】 功能材料 ,JOURNAL OF FUNCTIONAL MATERIALS , 编辑部邮箱 ,2000年S1期
  • 【分类号】TQ13
  • 【被引频次】3
  • 【下载频次】54
节点文献中: 

本文链接的文献网络图示:

本文的引文网络