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PDP单元真空紫外辐射的测量

The Measurement of the Vacuum Ultraviolet for PDP Cells

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【作者】 金玉丰朱昌昌王绪丰

【Author】 Jin Yufeng(Institute of Microelectronics, Peking University, Beijing, 100871) Zhu Changchang Wang Xufeng(Nanjing Electronic Devices Institute, Nanjing, 210016)

【机构】 北京大学微电子所!北京100871南京电子器件研究所!南京210016

【摘要】 讨论了彩色 PDP显示单元工作时 VUV的测试原理与方法。通过建立以真空紫外光谱仪和电信号处理接口为核心的专用测试系统 ,实现了对 AC-PDP显示样板的 VUV强度和分布进行动态测试。在不同工作压强下 ,进行了 Ne、Xe混合气体 PDP显示单元工作状态的测试 ,得到了 VUV辐射曲线 ,147nm、15 2 nm和 173nm三条 VUV辐射相对强度的典型值是 :30∶ 12∶ 13

【Abstract】 The measuring principle and method of vacuum ultraviolet(VUV) for color PDP cells had been discussed. By establishing the special measuring system equipped with VUV spectrophotometer and electronic signal process interface, the dynamical intensity and distribution of VUV in AC PDP cells were measured. The intensity of VUV in PDP cells filled with gas mixture of Ne and Xe was determined under different working pressure. The typical values of the relative intensity of three VUV, i. e. 147 nm, 152 nm and 173 nm,were 30∶12∶13.

  • 【文献出处】 光电子技术 ,OPTOELECFRONIC TECHNOLOGY , 编辑部邮箱 ,2000年03期
  • 【分类号】TN873
  • 【被引频次】1
  • 【下载频次】46
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