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等离子体原子发射光谱/质谱在新型陶瓷材料分析中的应用

The Application of Inductively Coupled Plasma Atomic Emission Spectrometry/Mass Spectrometry in the Analysis of Advanced Ceramic Materials

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【作者】 彭天右； 江祖成； 胡斌； 秦永超； 廖振环；

【Author】 PENG Tian you, JIANG Zu cheng , HU Bin, QIN Ying chao, LIAO Zheng huan (Department of Chemistry, Wuhan University, Wuhan, 430072)

【机构】 武汉大学化学系!武汉； 430072；

【摘要】 本文对近几年来等离子体原子发射光谱 ( ICP-AES)和等离子体质谱 ( ICP-MS)在新型陶瓷材料分析中的应用进行了评述 ,讨论了应用 ICP-AES/MS技术测定陶瓷材料中痕量杂质的各种进样技术。引用文献 60篇。

【Abstract】 A review on the analysis of advanced ceramic materials by ICP AES/MS were presented. The sample introduction techniques of ICP AES/MS in the determination of trace impurities in advanced ceramic materials were also discussed. 60 references are cited.

【关键词】 等离子体原子发射光谱； 等离子体质谱； 进样技术； 新型陶瓷材料；
【Key words】 ICP AES； ICP MS； Sample introduction technique； Advanced ceramic materials；
  • 【文献出处】 分析科学学报 ,JOURNAL OF ANALYTICAL SCIENCE , 编辑部邮箱 ,2000年01期
  • 【分类号】O657.3
  • 【被引频次】4
  • 【下载频次】247
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