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FDTD法分析高速集成电路芯片内互连线

Analysis of On-chip Interconnection Lines in High speed IC by the FDTD Method

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【作者】 袁正宇李征帆邹瑉珋

【Author】 YUAN Zheng yu,LI Zheng fan,ZOU Min liu(Department of Electronic Engineering,Shanghai Jiaotong University,Shanghai 200030,China)

【机构】 上海交通大学电子工程系!上海200030

【摘要】 本文首次利用时域有限差分 (FDTD)法分析了高速集成电路芯片内半导体基片上的有耗互连传输线的电特性 .文中提出了有耗吸收边界条件 ,推导了不同媒质交界面上的边界条件通用格式 .在FDTD分析的基础上 ,得到传输线各种参数的频变特性 ,为芯片内电路模拟提供了可靠的参数 .

【Abstract】 A full wave analysis of lossy interconnection lines on doped semiconductor substrates in high speed integrated circuits is carried out by means of a finite difference time domain (FDTD) approach.By using lossy absorbing boundary conditions (LABCs) and an efficient calculation procedure for lossy structures,frequency dependent line parameters are calculated over a wide frequency range.All these provide the reliable parameters for the circuit simulation of IC.

【基金】 国家自然科学基金;博士点基金
  • 【文献出处】 电子学报 ,ACTA ELECTRONICA SINICA , 编辑部邮箱 ,2000年02期
  • 【分类号】TN405.97
  • 【被引频次】16
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