节点文献

离子注入降低PtSi肖特基二极管的势垒高度

Reducing Barrier Height of PtSi Schotty Diode Using Ion Injection Doping

  • 推荐 CAJ下载
  • PDF下载
  • 不支持迅雷等下载工具,请取消加速工具后下载。

【作者】 刘爽宁永功杨忠孝陈艾熊平杨家德

【Author】 LIU Shuang, NING Yong\|gong, YANG Zhong\|xiao and CHEN Ai(Inst. of Information Materials Engineering, UEST of China, Chengdu 610054, China) XIONG Ping and YANG Jia\|de(Chongqing Institute of Optics Electronic Technology, Chongqing 400061, China)Rec

【机构】 电子科技大学信息材料工程学院!成都610054重庆光电技术研究所!重庆400060

【摘要】 Pt Si肖特基二极管的势垒高度制约 Pt Si红外探测器的截止波长和量子效率 .在 Pt Si/Si界面注入 In+ 、B+ ,采用高浓度、浅层注入避免隧穿效应 ,用 Ar气保护热处理消除注入损伤 ,附加掩膜层控制离子注入深度 ,成功地将 Pt Si肖特基二极管的势垒高度降低到 0 .1 5e V.

【Abstract】 The cutoff wavelength and the quantum efficiency of PtSi infrared detector are restricted by its Schottky barrier height. A technique is developed of doping In\++ and B\++ at the PtSi/Si interface to reduce the barrier height to 0 15eV. Higher doping ion concentration and thin p + layer can avoid the tunneling effect. Annealing in Ar atmosphere relieves the doped defect, and additional mask layer controls the depth of ion doping.

  • 【文献出处】 半导体学报 ,CHINESE JOURNAL OF SEMICONDUCTORS , 编辑部邮箱 ,2000年10期
  • 【分类号】TN31
  • 【被引频次】9
  • 【下载频次】169
节点文献中: 

本文链接的文献网络图示:

本文的引文网络