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电阻率两种测试方法间几何效应修正的相关性

Relationship Between Geometric Effect Correction on Resistivity Measurement Methods

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【作者】 孙以材范兆书孙新宇宁秋凤

【Author】 Sun Yicai; Fan Zhaoshu; Sun Xinyu; Ning Qiufeng(Department of Electronics Engineering, Hebei University of Technology, Tianjin 300130)

【机构】 河北工业大学电气信息学院电子工程系!天津300130美国新墨西哥大学

【摘要】 根据有限厚度样品体电阻率和薄层电阻两种测试方法间的厚度修正系数的相关性,论证了其边缘效应修正系数具有一一对应的严格的相等性。通过实验予以证明,并可将这一结论应用于非圆心点测试。

【Abstract】 This paper puts forward an equivalence relation of the correction factors for the boundary effect, according to the relation of the thickness correction factors between two measurement methods of the bulk resistivity and sheet resistance for the specimens with a finite thickness. It has been confirmed through experiment, and can be used for the measurement with the four-point probe out of the center of the specimens.

  • 【文献出处】 半导体技术 ,SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY , 编辑部邮箱 ,2000年05期
  • 【分类号】TN306
  • 【被引频次】43
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