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光电双基区晶体管中的光控电流开关效应

The Photo controlled Current Switching in Photo Dual Base Transistor

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【作者】 郭维廉张培宁郑云光李树荣张世林

【Author】 Guo Weilian,Zhang Peining,Zheng Yunguang,Li Shurong,Zhang Shilin (College of Electronic Information Engineering,Tianjin University,Tianjin 300072)

【机构】 天津大学电子信息工程学院!天津300072

【摘要】 光电双基区晶体管在光电混合模式工作条件下具有光控“S”型负阻特性及其光控电流开关效应。测量了光照时IBE-VBE特性、Ith(光阈值)-RC特性等曲线。并利用电注入双基区晶体管的“S”型负阻产生机理解释了测得的结果。

【Abstract】 In this paper,the photo controlled“S”negative resistance characteristics and the current switching effect have been found in the optical and electrical mixed operating mode on photo dual base transistor(PDUBAT).The I BE V BE and I th R C characteristics of PDUBAT under light have been measured.The measured results can be explained by the“S”negative resistance characteristic on electrical DUBAT device.

【基金】 集成光电子学联合实验室开放课题资助
  • 【文献出处】 半导体技术 ,SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY , 编辑部邮箱 ,2000年01期
  • 【分类号】TN364.3
  • 【被引频次】7
  • 【下载频次】37
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