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MOCVD外延碲镉汞薄膜的生长工艺选择

The Choice of Growth Technology for HgCdTe Epitaxial Growth by MOCVD

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【作者】 王跃宋炳文刘朝旺王静宇杨玉林介万奇周尧和

【Author】 WANG Yue 1,2 ,SONG Bing wen 1,LIU Chao wang 1,WANG Jing yu 1, YANG Yu ling 1,JIE Wan qi 2,ZHOU Yao he 2 (1.Kunming Institute of Physics,Kunming 650223,China; 2.National Key Laboratory of Solidification Processing,Northwest Polytechnical

【机构】 昆明物理研究所!云南昆明650223西北工业大学凝固技术国家重点实验室陕西西安710072西北工业大学凝固技术国家重点实验室!陕西西安710072西北?

【摘要】 金属有机化合物汽相沉积 (MOCVD)技术是制备用于红外焦平面阵列 (IRFPA)的高质量碲镉汞 (HgCdTe)薄膜材料的重要手段。文中讨论了汞源温度、生长温度、衬底材料及互扩散多层工艺 (IMP)等因素在MOCVD外延生长碲镉汞薄膜过程中的作用机理 ,并选择合适的生长条件获得了质量优良的碲镉汞薄膜。

【Abstract】 Metalorganic chemical vapour phase deposition (MOCVD) is a very important technique to grow high quality HgCdTe films for fabrication of infrared focal plane arrays (IRFPAs).In this paper, the function and mechanism of mercury souce temperature ( T Hg ),growth temperature ( T G),substrate materials and the interdiffused multilayer process (IMP) during the growth procedure on HgCdTe epitaxial film by MOCVD are discussed briefly. Based on the discussion, high quality HgCdTe films are grown by choosing suitable growth technology of MOCVD.

【关键词】 MOCVD碲镉汞薄膜衬底材料生长工艺
【Key words】 MOCVDHgCdTe filmsubstrate materialgrowth technology
  • 【文献出处】 半导体光电 ,SEMICONDUCTOR OPTOELECTRONICS , 编辑部邮箱 ,2000年04期
  • 【分类号】TN304
  • 【被引频次】4
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