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用微波反射法测HgCdTe中少数载流子寿命

Measurement of Minority Carrier Lifetime in HgCdTe Using Microwave Reflectance Technique

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【Author】 HUANG Shi hua 1,XIA Cheng jie 2,JIA You jian 1,MENG Qing lan 1 (1.Science College,Kunming University of Science and Technology,Kunming 650051,China; 2.Kunming Institute of Physics,Kunming 650223,China)

【机构】昆明理工大学理学院!云南昆明650051；昆明物理研究所!云南昆明650223；

【摘要】介绍了用微波反射法测量HgCdTe中的少数载流子寿命 ,分析了其测量原理 ,并与接触式的光电导衰减法进行了对比。更多还原

【Abstract】 A new method of microwave reflectance applied in measurement for the minority carrier lifetime in HgCdTe is introduced.The measuring mechanism is analyzed and comparison with the contact photoconduction decay measurement is carried out.更多还原

【关键词】微波反射法；少数载流子寿命； HgCdTe；
【Key words】 microwave reflectance； minority carrier lifetime； HgCdTe；

【文献出处】半导体光电 ,SEMICONDUCTOR OPTOELECTRONICS , 编辑部邮箱 ,2000年04期

【分类号】TN304
【被引频次】1
【下载频次】91

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