节点文献

沉积温度为室温和560℃的Nb/Si多层膜微结构研究

Microstructure Studies of Nb/Si Multilayers Deposited at Room Temperature and 560 ℃

  • 推荐 CAJ下载
  • PDF下载
  • 不支持迅雷等下载工具,请取消加速工具后下载。

【作者】 张明赵建华曹立民许应凡王文魁

【Author】 Zhang Ming,Zhao Jianhua,Cao Limin,Xu YingFan,Wang Wenkui(Institute of Physics,Chinese Academy of Sciences,Beijing,100080)

【机构】 中国科学院物理研究所!北京100080

【摘要】 对多靶离子溅射制备的Nb/Si周期多层膜的微结构进行了实验研究。利用X射线衍射和截面透射电子显微镜观测到室温和 56 0℃沉积的Nb/Si多层膜为非晶多层膜 ,但它们的微结构有很大的不同。采用沉积原子表面活动性和界面反应程度解释了所得到的结果。

【Abstract】 The microstructures of Nb/Si multilayers prepared by ion beam sputtering technique have been studied by using XRD and CTEM.The XRD and CTEM observations demonstrate that significant differences in film morphology emerge for samples deposited at room temperature and 560 ℃ respectively .It is surface mobility of adatoms and interfacial reaction that play an important role in the growth of amorphous Nb/Si multilayers.

【基金】 国家自然科学基金
  • 【分类号】TN304.055
  • 【被引频次】2
  • 【下载频次】42
节点文献中: 

本文链接的文献网络图示:

本文的引文网络