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脉冲激光沉积制备c轴取向AlN薄膜

c axis Oriented AlN Thin Films Prepare d by Pulsed Excimer Laser Deposition

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【作者】 黄继颇王连卫祝向荣多新中林成鲁

【Author】 Huang Jipo Wang Lianwei Zhu Xiangrong Duo Xinzhong Lin Chenglu (State Key Laboratory of Functional Mate rials for Informatics, Shanghai Institut e of Metallurgy, Shanghai, 200050)

【机构】 中国科学院上海冶金所!信息功能材料国家重点实验室上海200050中国科学院上海冶金?

【摘要】 c轴取向的AlN 具有优异的压电性和声表面波传输特性,已受到人们日益广泛的重视。文章报道了采用KrF脉冲准分子激光沉积工艺,在Si(100)衬底上成功地制备了c轴取向的AlN晶态薄膜。X射线衍射与傅里叶变换红外光谱的结果表明,在300 °C~800 °C衬底温度下,薄膜均只有(002)一个衍射峰,但随着温度的升高,薄膜的结晶质量变好;原子力显微镜对800 °C沉积薄膜观察结果显示,薄膜具有高度一致的柱状结构,平均晶粒大小为250 nm 。

【Abstract】 A1N thin films have bee n successfully grown on Si(100) substrat es by krF pulsed excimer laser depostion . XRD, FTIR and AFM are employed to char acterize A1N films. The substractes temp erature plays an important role in fabri cating A1N films. The films deposited at 300 °C ~800 °C are (002) oriented and s how better crystalline properties at hig her temperatures. AFM observations of th e films deposited at 800 °C reveal fine grains with size of 250 nm, implying the columnar growth mechnism.

【基金】 上海市启明星计划
  • 【文献出处】 压电与声光 ,PIEZOELECTRICS & ACOUSTOOPTICS , 编辑部邮箱 ,1999年05期
  • 【分类号】TN304.055
  • 【被引频次】18
  • 【下载频次】113
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