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等离子体源离子渗氮合成硼碳氮薄膜的研究

B-C-N Films Synthesized by Plasma Source Ion Nitriding

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【作者】 雷明凯袁力江张仲麟马腾才

【Author】 LEI Ming-Kai;YUAN Li-Jiang; ZHANG Zhong-Lin; MA Teng-Cai(Department of Materials Engineering, Dalian University of Technology Dalian 116024 China)(National La6oratory of Materials Modification, Daling University of Technology Dalian116024 China)

【机构】 大连理工大学材料工程系!大连116024大连理工大学三束材料改性国家重点联合实验室大连大连理工大学三束材料改性国家重点联合实验室!大连

【摘要】 采用等离子体源离子渗氮,即低能(1-3keV)、超大剂量(1019~1020ions.cm-2)氮离子注入-同步热扩散技术,在300~500℃处理碳化硼薄膜,合成了硼碳氮三元薄膜.俄歇电子能谱和漫反射富氏变换红外光谱分析表明,合成的硼碳氮薄膜是碳硼比固定,氮含量可控的非晶态薄膜.300℃渗氮的薄膜由sp2型的硼、碳、氮微区构成,而500℃渗氮的薄膜则由sp3和sP2型复合的微区组成.较高的渗氮工艺温度促进sP3型结构的形成,渗氮工艺时间对薄膜结构的影响不显著.

【Abstract】 An amorphous boron-carbon-nitrogen film was syathesized by plasma source ion nitriding,that is nitrogen ion implantation at low energy (1-3 keV) and superhigh dose (1019-1020ions. cm(-2)) and simultaneously indiffusion. Auger electron spectroscopy and diffuse reflectanceFourier transform infrared spectra showed that the films are mainly composed of sp2 and sp3 plain(graphite- and Pyridine-like) microdomains with a fixed B/C ratio and a controllable nitrogencontent at a nitriding temperature of 500℃ for a nitriding time from 2 to 6 h. The formation ofsp3 plain microdomains strongly depends on the nitriding temperature and softly on the nitridingtime.

【基金】 国家自然科学基金!59402009
  • 【文献出处】 无机材料学报 ,JOURNAL OF INORGANIC MATERIALS , 编辑部邮箱 ,1999年01期
  • 【分类号】TG174.442
  • 【被引频次】10
  • 【下载频次】147
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