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铝阳极氧化膜缺陷形成机制及改善方法

Forming Mechanism and Improving Approach on Defect in Aluminum Anode Oxide Films

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【作者】 韦春才赵泉柱

【Author】 Wei Chuncai;Zhao Quanzhu ( Dept. of Electronic Engineering Shenyang Polytechnic University)

【机构】 沈阳工业大学电子工程系!辽宁沈阳110023

【摘要】 铝电解电容器的电介质是一层微米级的氧化铝膜,其本身存在的各种缺陷直接影响电容器的电性能、可靠性及寿命,阐述了铝电解电容器阳极氧化膜杂质缺陷、水化物层缺陷、表面龟裂缺陷的形成机制,并提出改善方法.介绍了选用高纯度原料法、热处理法、电压变化法、水化物去除法和热水处理法,并证明了上述5种方法的有效性.

【Abstract】 This paper discribs forming mechanism and improving approach on kinds of impurity defect, hydrated water layer defect, tortoise crack surface etc. in the aluminum anode oxide films.

  • 【文献出处】 沈阳工业大学学报 ,JOURNAL OF SHENYANG POLYTECHNIC UNIVERSITY , 编辑部邮箱 ,1999年01期
  • 【分类号】TN604
  • 【被引频次】14
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