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平场光栅谱仪相对衍射效率测量

RELATIVE DIFFRACTION EFFICIENCY MEASUREMENT OF FLAT-FIELD SPECTROGRAPH

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【作者】 黄文忠尤永录成金秀谷渝秋淳于书泰蔡玉琴

【Author】 HUANG Wen-zhong; YOU Yong-lu; CHENG Jin-xiu;GU Yu-qiu; CUNYU Shu-tai; CAI Yu-qing(Institute of Nuclear Physics and Chemistry,CAEP, P. O. BOx919-216 Mianyang, Sichuan 621900)

【机构】 中物院核物理与化学研究所!四川绵阳919-216信箱62190062

【摘要】 以激光碳等离子体作为软X射线源,同时用平场光栅谱仪、常栅距光栅谱仪测量了类氢和类氦离子谱线强度,以一级谱线强度为标准,给出了平场光栅谱仪高级次光谱的相对衍射效率。

【Abstract】 The spectral intensities are measured using a flat-field grating spectrograph and a equallyspaced grooves grating spectrograph with a laser-produced C-plasma as a soft X-ray source. The efficiencieson different diffraction orders are given relative to the first order.

【基金】 中国工程物理研究院科学基金
  • 【文献出处】 强激光与粒子束 ,HIGH POWER LASER & PARTICLE BEAMS , 编辑部邮箱 ,1999年06期
  • 【分类号】TL817
  • 【被引频次】2
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