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相移干涉计量中高精度相移器的研究

Study of a High Precision Phase Shifter Employed in Phase Shifting Metrology

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【作者】 范华张弛任亚萍谭玉山

【Author】 Fan Hua Zhang Chi Ren Yaping Tan Yushan (Institute of Laser & IR Applications, Xi’an Jiaotong University, Xi’an 710049)

【机构】 西安交通大学激光红外研究所

【摘要】 相移器是相移干涉计量中的关键技术,对测量精度有很大的影响,关系到相移技术的成败。介绍了一种闭环控制的高精度相移器,输出电压精度为0.1%,相移器重复误差小于3°,用该相移器的电子散斑干涉计量系统测量精度可达λ/100。

【Abstract】 Phase shifting is the key technique in phase shifting interference metrology and it greatly effects the measuring precision even results in a failure. A high precision phase shifter is presented in this paper. The error of the output voltage is less than 0.1% and the error of the phase shifter is less than 3 degrees. The ESPI measuring system with the phase shifter described in this paper can reach a precision of λ/100.

  • 【分类号】TN623.02
  • 【被引频次】14
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