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从噪声测量确定探测器双极迁移率及电学参数

A New Method to Determine the Electric Parameters of Detector Materials

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【作者】 程进朱惜辰

【Author】 Cheng Jin; Zhu Xichen(Kunming Institute of Physics, Kunming,650223)

【机构】 昆明物理研究所!昆明650223

【摘要】 提出一种确定光导探测器参数η0、μa和τ的新方法──探测器噪声与偏置关系测量的计算机拟合方法。进行了理论分析,并以实验证明了方法的可行性.

【Abstract】 A new method to determine the parameters no, μa and τ of materials by noisemeasurements of detectors is suggested. The theory analysis was presented, and its feasibility wasproved by experiments.Keywoads:HgCdTe, Bias, Noise spectrum, Hooge parameter

  • 【文献出处】 红外技术 ,INFRARED TECHNOLOGY , 编辑部邮箱 ,1999年03期
  • 【分类号】TN215
  • 【被引频次】4
  • 【下载频次】77
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