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硫化锌薄膜的微结构剖析

Microstructural Dissection of Zinc Sulfide Thin Films

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【作者】 柳兆洪陈谋智孙书农刘瑞堂林爱清邓彩玲肖细凤

【Author】 Liu Zhaohong Chen Mouzhi Sun Shunong Liu Ruitang Lin Aiqing Deng Cailing Xiao Xifeng (Dept.of Phys., Xiamen Univ., 361005,CHN)

【机构】 厦门大学物理系

【摘要】 用X射线衍射和X射线光电子能谱技术,对分舟热蒸发法研制的掺铒(Er)硫化锌直流电致发光薄膜及硫化锌粉料进行剖析,获得薄膜表面及粉料的构态信息,讨论了影响微晶薄膜质量的主要因素。

【Abstract】 The zinc sulfide DCEL thin films doped with erbium, prepared by thermal evaporation with two boats, are analysed with XRD and XPS technologies. The structure state information of ZnS powder and thin film surface is obtained. The factors influencing on the quality of microcrystalline thin films are discussed as well.

【基金】 福建省自然科学基金
  • 【文献出处】 固体电子学研究与进展 ,RESEARCH & PROGRESS OF SOLIA STATE ELECTRONICS , 编辑部邮箱 ,1999年01期
  • 【分类号】TN304.055
  • 【被引频次】1
  • 【下载频次】145
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