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脆性X综合征的筛查与诊断

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【作者】 翟晓文;

【机构】 上海医科大学儿科医院!200032;

【摘要】 脆性X综合征是引起先天性智力低下常见的疾病,仅次于Down综合征,由家族性智力低下基因(FMR)-1动态突变引起,具有独特的遗传方式和临床表现。本文综述了该疾病有关细胞遗传学、分子生物学和免疫细胞化学方面的筛查及诊断方法。

  • 【文献出处】 国外医学(儿科学分册) ,Foreign Medical Pediatric Section , 编辑部邮箱 ,1999年02期
  • 【分类号】R596
  • 【被引频次】8
  • 【下载频次】103
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