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用表面等离子体谐振(SPR)测量物质的折射率

Determination of Refractive Index by Surface Plasmon Resonance

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【作者】 赵杰崔大付韩泾鸿

【Author】 Zhao Jie Cui Dafu Han Jinghong (The Institute of Electronics,Chinese Academy of Sciences,Beijing 100080)

【机构】 中国科学院电子学研究所

【摘要】 本文介绍一种用表面等离子体谐振(SPR)间接测量物质折射率的新方法。从理论上对这种方法作了论证,运用这种方法对LB膜做了测试实验,推算出其折射率,并且分析了这种方法适用特点

【Abstract】 A new method (Surface Plasmon Resonance) is introduced which can be used to determine indirectly refractive index in this paper.The theory of this method is given.The method is used to determine resonance angles of different layers of LB film,then their refractive indexes are calculated.Finally applied characteristics of the method is explained.

【基金】 国家自然科学基金
  • 【文献出处】 光电子·激光 ,Journal of Optoelectronics.laser , 编辑部邮箱 ,1999年01期
  • 【分类号】O435.1,TN201
  • 【被引频次】30
  • 【下载频次】455
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