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电容器元件的失效分析

Failure Analysis on Capacitor Component

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【作者】 陈晞

【Author】 Chen Xi(Fujian Iustitute of Testing Technology,Fuzhou 350003)

【机构】 福建省测试技术研究所 福州350003

【摘要】 用电子显微分析技术对焊接在电路板上的电容器管脚的脱焊现象作失效分析

【Abstract】 The paper introduced the failure analysis on capacitor seperated from circuit sub- strate by means of electron microscopy.

  • 【文献出处】 福建分析测试 ,Fujian Analysis & Testing , 编辑部邮箱 ,1999年04期
  • 【分类号】TM53
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