节点文献

液态金属离子源聚焦离子束系统在微米/纳米技术中的应用

The Application of LMIS-FIB in Micro/Nano Technology

  • 推荐 CAJ下载
  • PDF下载
  • 不支持迅雷等下载工具,请取消加速工具后下载。

【作者】 董桂芳张克潜汪健如应根裕

【Author】 Deng Guifang; Zhang Keqian;Wang Jiangru; Ying Genyu (Departement of Electronic Enginerring, Tsinghua University, Beijing 100084)

【机构】 清华大学电子工程系!北京100084

【摘要】 随着微米/纳米科学技术的发展,微细加工微区分析所用的主要技术之一──聚焦离子束技术引人注目.本文简述了具有液态金属离子源的聚焦离子束技术的主要功能,着重报道了近年来该技术在下述领域中的应用:(1)半导体大规模集成电路器件的集成、失误诊断和修复.(2)光电子集成技术中量子阱激光器和光纤相位掩模的制备及量子效应研究.(3)超导器件和真空微电子器件的研制.(4)二次离子质谱分析和透射电子显微镜样品的制备.

【Abstract】 Following the development of micro/nano science and technology,one of the most important technologies in microfabrication and microanalyses, focused ion beam (FIB) technology, is gaining more interests. In this paper, the main functions of FIB technology with liquid metal ion ires (LMIS) is summarized briefly. Its recent applications in the following regions are reviewed in detail: (1) In integrated semiconductor circuits: integrating devices, failure analysis and repair. (2)In integrated optoelectronic circuits: the fabrication of quantum well laser and phase mask for optical fiber, the research of quantum effeCts. (3)the fabrications of superconductor devices and vacuum microelectronic devices. (4)the technology of secondary ion mass spectrometry and the preparation of specimens for transmission electron microscopy.

【基金】 国家“863”项目
  • 【文献出处】 电子学报 ,ACTA ELECTRONICA SINICA , 编辑部邮箱 ,1999年06期
  • 【分类号】TN304.0
  • 【被引频次】8
  • 【下载频次】230
节点文献中: 

本文链接的文献网络图示:

本文的引文网络