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磁光记录薄膜温度特性测量方法研究

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【作者】 朱全庆； 李震； 胡用时； 邱进军； 李佐宜；

【机构】 华中理工大学电子科学与技术系!武汉； 430074；

【摘要】 光调制直接重写磁光盘为多层耦合膜，要求各功能层厚度很小，同时饱和磁化强度从很低，用一般的VSM测量系统的测定各功能层的Ms及其与温度的关系比较困难。我们采用了多种技术，包括隔震技术、仪器参数综合优化和误差分析等方法，提高了VSM测量灵敏度，成功测出了磁光记录薄膜各功能层的温度特性及其居里温度，取得了很好的效果。

【关键词】 磁光记录； 测量方法研究； 饱和磁化强度； 功能层； 隔震技术； 测量灵敏度； 测量系统； 磁光盘； 误差分析； 仪器参数；
  • 【文献出处】 磁记录材料 ,Magnetic Recording Materiais , 编辑部邮箱 ,1999年03期
  • 【分类号】TQ58
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